自動サンプル準備システム ZONETEM II
実験用電子顕微鏡用透過型電子顕微鏡

自動サンプル準備システム - ZONETEM II - Hitachi High-Tech Europe GmbH - 実験用 / 電子顕微鏡用 / 透過型電子顕微鏡
自動サンプル準備システム - ZONETEM II - Hitachi High-Tech Europe GmbH - 実験用 / 電子顕微鏡用 / 透過型電子顕微鏡
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特徴

操作
自動
応用
実験用, 電子顕微鏡用, 透過型電子顕微鏡
用途
掃除用
サンプルタイプ
表面用
設定
卓上

詳細

SEMおよびTEM画像の鮮明化を実現する、穏やかで効果的な炭化水素除去 化学薬品やガスの供給を必要としないUV洗浄 炭化水素汚染を迅速かつ試料を傷つけずに除去 レシピ記憶機能を備えたタッチスクリーンインターフェースにより、操作が簡単で再現性が高い 1台の装置で試料の洗浄と保管を同時に行うデュアル機能 さまざまな試料タイプに対応する真空制御による洗浄 概要 炭化水素汚染は、高品質なSEMおよびTEM画像取得における最も一般的な障害の一つです。試料調製中に混入した場合でも、画像取得中に蓄積した場合でも、これらの炭素系残留物は微細なディテールを隠蔽し、データを歪め、貴重な時間を浪費させる原因となります。 日立の「ZoneSEM II」および「ZoneTEM II」UV式試料クリーナーは、実験台のその場で、この汚染を安全かつ効率的、そして化学薬品を使用せずに除去する方法を提供します。低エネルギーUV光と活性酸素を利用することで、これらのコンパクトな装置は、繊細な構造を損傷したり表面特性を変化させたりすることなく、試料を優しく洗浄します。 特長と利点 ZoneSEM IIおよびZoneTEM IIクリーナーは、UVランプを用いて炭化水素の結合を分解します。酸素の存在下で、使用される波長によりオゾンと活性酸素種が生成され、これらが炭化水素をCO₂やH₂Oなどの揮発性化合物に酸化します。これにより、溶剤、試薬、ガス供給を必要とせずに、安全に汚染物質を除去します。 内蔵ポンプにより真空度を調整できるため、ユーザーは洗浄強度を制御できます。これにより、試料に応じてプロセスを最適化することが可能です。 使いやすいタッチスクリーンインターフェースにより、洗浄プロトコルの選択と実行が簡単に行えます。レシピメモリ機能により、プロセス設定を保存・呼び出しが可能で、複数のユーザーが利用する研究室や日常的なワークフローに最適です。

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。