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Hitachi High-Tech Europe GmbHの全製品

Electron Microscopes (SEM/TEM/STEM)

走査電子顕微鏡
走査電子顕微鏡 SU9000 II
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FE-SEM顕微鏡 SU3800SE/SU3900SE
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FOCUSED ION BEAM SYSTEMS (FIB/FIB-SEM)

FIB/SEM顕微鏡
FIB/SEM顕微鏡 NX5000
実験用 研究用 床置き
FIB顕微鏡
FIB顕微鏡 NX9000
FIB/SEM 生物学 実験用
FIB/SEM顕微鏡
FIB/SEM顕微鏡 NX2000
走査電子 FIB 検査用

Sample Preparation

自動サンプル準備システム
自動サンプル準備システム ZONESEM II
電子顕微鏡用 実験用 掃除用
自動サンプル準備システム
自動サンプル準備システム IM4000 II
走査型電子顕微鏡用 冷却 イオンビームミリング
自動サンプル準備システム
自動サンプル準備システム ArBlade 5000 / IM5000-CTC
電子顕微鏡用 冷却 イオンビームミリング
自動サンプル準備システム
自動サンプル準備システム ZONETEM II
電子顕微鏡用 実験用 透過型電子顕微鏡
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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。
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