自動サンプル準備システム IB-19520CCP
電子顕微鏡用冷却卓上

自動サンプル準備システム
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特徴

操作
自動
応用
電子顕微鏡用
用途
冷却
設定
卓上

詳細

特徴 処理中に液体窒素で試料を冷却することで、熱損傷を低減できます。 液体窒素の消費を抑え、長い冷却期間を可能にします。 液体窒素に浸した状態で試料を迅速に冷却します。 室温に戻ります。 部品を取り外すことができるように設計されています。 試料を空気にさらすことにより、研磨から観察までのプロセスを実行できるメカニズムを内蔵しています。 IB-19520CCP 冷却効果 試料の特徴:亜鉛メッキ鉄鋼 ※通常のフライス加工(冷却なし)の場合、鉄と亜鉛の境界に目に見える空隙があり、冷却には見られません。 プロセスモニタ機能 断面フライス加工の状態をCCDカメラでリアルタイムに監視できます。 倍率は変えることができます。 帯電防止コーティング機能 オプションのイオンビームスパッター機能があります。 良好な粒度の薄いコーティングを作成する。 EBSDのようなパターン認識が必要な場合に最適です。 平面イオンフライスホルダー イオンビームはサンプルに対して低い角度で照射され、表面層の汚染を除去し、表面を平滑化することができます。 また、選択的エッチングにも最適です。 断面準備キット サンプルを回転させながらイオンビームフライス加工を行うためのキットです。 このキットは、平面イオンフライスホルダーとともに使用されます。 多孔質材料、粉末、繊維など、粉砕時に縞状になりやすいサンプルの断面を作成することを可能にします。

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。