自動サンプル準備システム EM TXP

研究所用研究用透過型電子顕微鏡

ライカ EM TXPは、SEM、光学顕微鏡およびTEM観察用試料に向け、切断・研磨専用に開発されたユニークなターゲット断面作製装置です。 試料の特定個所を狙った正確なミリング、切断、研削、研磨作業は、ターゲットを見失いやすくきわめて時間を要する難しい作業でした。ライカ EM TXPを使えば、このような微小領域のターゲットサンプリングが短時間で簡単に行えます。 ●微小ターゲットの正確な配置と調製 ●高性能実体顕微鏡による観察 ●多機能、セミ・オート機械式システムによる処理 ●断面の鏡面研磨工程は、自動制御により行うことが可能 ●高輝度なLEDリング照明 実体顕微鏡による作業工程中のターゲットの観察 試料は、ピポット・アームの調節により、治具に対して-30°～60°の角度で処理および観察ができます。60°の角度では、試料断面を正面から観察できます。 また、-30°の角度に調節すると、観察光路に対して試料を90°に配置でき、試料トップを接眼レンズ内のテンプレートにより簡易計測することができます。 ピボット・アームレバー、ハンドホイール ハンドホイールは、0.5, 1, 10, 100μm刻みの手動送りが可能。 コントロールパネルで、手動操作と自動調整の全パラメータが設定できます。 多彩な処理 サンプルを試料ホルダーに固定しピボット・アームに装着すると、以下の処理を行うことができます。 -ドライ・ミリング -切断 -研削 -研磨 作業中サンプルはEM TXPから取り外すことなく、実体顕微鏡で全工程を直接観察しながらツールを交換するだけで作業を行うことができます。