Sistema automático de preparação de amostras IM4000 II

para SEMde resfriamentode polimento com feixe de íons

Elevada velocidade de fresagem: Preparação rápida e eficiente de amostras de materiais duros Fresagem transversal e plana: Opções flexíveis para diferentes aplicações Arrefecimento criogénico (opcional): Reduz os danos em amostras sensíveis à temperatura Interface intuitiva: controlos intuitivos no ecrã tátil para facilitar a utilização Otimizado para SEM e AFM: compatível com microscópios da Hitachi e de outros fabricantes Visão geral Os sistemas de fresagem iônica Hitachi IM4000II e IM5000 proporcionam uma preparação de amostras de alta precisão para microscopia eletrónica de varrimento. Quer esteja a analisar metais, semicondutores, polímeros, cerâmicas ou materiais em camadas, estes sistemas garantem secções transversais de alta qualidade e polimento de superfícies com o mínimo de artefactos. Concebidos para investigação académica, controlo de qualidade industrial e laboratórios de ciência dos materiais, ambos os sistemas proporcionam resultados rápidos e repetíveis, tornando-os essenciais para aplicações avançadas de microscopia eletrónica. O IM4000II é um sistema «tudo-em-um» para fresagem de secções transversais e/ou plana, tornando-o uma opção flexível para laboratórios que necessitem de uma ferramenta básica de preparação de amostras. O IM5000, mais avançado, apresenta uma taxa de fresagem mais elevada e fresagem de secções transversais de grande área, tornando-o perfeito para aplicações exigentes e laboratórios que necessitam de um elevado rendimento Características e vantagens Reduz os tempos de processamento sem comprometer a integridade da amostra. O IM4000II atinge uma taxa de fresagem de 500 μm/h, enquanto o IM5000 oferece uns impressionantes 1 mm/h ou mais (para amostras de Si com saliência de 100 μm). Ideal para materiais duros, como metais e semicondutores, que requerem uma fresagem prolongada. Obtenha a flexibilidade necessária para preparar as amostras exatamente como precisa.