Sistema automático de preparação de amostras ArBlade 5000

para microscopia eletrônicade resfriamentode polimento com feixe de íons

O sistema de feixe de iões de ampla banda mais avançado para a produção de amostras de secção transversal ou de fresagem plana de qualidade excecionalmente elevada para microscopia eletrónica. Características Taxa de fresagem de secção transversal: 1 mm/hora!*1 O ArBlade 5000 está equipado com um canhão de iões de Ar de fresagem rápida, com uma taxa de fresagem duas vezes superior para um desempenho de ponta, reduzindo assim drasticamente o tempo de processamento para a preparação de secções transversais. Larguras de secção transversal até 8 mm! Para requisitos de fresagem de grande área, tais como aplicações em dispositivos eletrónicos, foi desenvolvido um design revolucionário de suporte de fresagem de secção transversal para a fabricação de áreas mais amplas. Exemplo de fresagem de secção transversal de grande área (Amostra: componente eletrónico, Tempo de fresagem: 5 horas) Modelo híbrido: configuração de fresagem dupla disponível O novo sistema de fresagem iônica está equipado com modos de fresagem de secção transversal e de fresagem plana para as necessidades de aplicação mais complexas. Equipado com vários suportes, o sistema ArBlade 5000 adapta-se a uma vasta gama de aplicações. Fresagem transversal Utilizada para produzir secções transversais mais amplas e sem distorções, sem aplicar tensão mecânica à amostra Imagem de fresagem transversal Fresagem plana Utilizada para remover artefactos da camada superficial e para o polimento final após técnicas tradicionais de polimento mecânico. Unidade de arrefecimento* As versões criogénicas do ArBlade 5000 proporcionam um arrefecimento ativo da plataforma de fresagem transversal durante o processamento da amostra. Um dewar de azoto líquido integrado, ligado à plataforma transversal, remove eficazmente o calor induzido durante a fresagem por feixe de iões da máscara de proteção e da amostra.