Medidor de espessura MPLS-DM series

para aplicações médicascontínuoem linha

Visão geral do produto
A família de sensores ChromaLine da STIL utiliza tecnologia confocal cromática para medições de linha sem contato e inspeção em linha em alta velocidade. A versão MPLS-DM fornece 180 pontos de medição alinhados em comprimentos de linha de 1,34 a 12,85 mm, projetada para uso contínuo com baixa manutenção.

Descrição
MPLS-DM oferece medições de distância e espessura em alta resolução com frequências de medição de 200 Hz até 2 kHz em modo padrão e até 6 kHz com alcance de medição reduzido. O sensor suporta extração de distância baseada em picos (primeiro/último e intermediários) e cálculo de espessura a partir de múltiplos picos. A cabeça óptica é composta apenas por componentes passivos para confiabilidade industrial.

Benefícios

• Medição sem contato versátil para materiais refletivos (metal, vidro, plásticos, filmes de tinta, líquidos)
• Cabeça óptica de grau industrial composta por componentes passivos para longa vida útil
• Alto débito: até 360.000 pontos medidos/segundo a 2 kHz; >1.000.000 pontos/segundo a 6 kHz em aplicações dedicadas
• Modos de medição de distância e espessura por múltiplos picos
• Alta resolução axial e baixo ruído para controle fino de superfície e espessura
• SDK e comandos de protocolo para integração simplificada
• Aquisições sincronizadas com entrada de encoder para processos dinâmicos
• Comunicação Gigabit Ethernet para transferência rápida de dados

Aplicações

• Inspeção de vidro automotivo
• Indústria de recipientes e embalagens de vidro
• Indústria de veículos elétricos (medições de baterias)
• Controle roll-to-roll e de películas (transparentes e opacas, eletrónica flexível)
• Indústria eletrónica (PCB)
• Indústria de semicondutores (pastilha de silício)
• Componentes de eletrónica de consumo
• Medicina (inspeção de componentes)
• Micromecânica e engenharia de precisão
• Aeronáutica / aeroespacial (inspeção de superfícies e conjuntos)
• Relógios e microassemblagem
• Integração robótica para inspeção automatizada

Versões
Os sensores ChromaLine estão disponíveis em cinco versões padrão MPLS-DM: NANOVIEW, MicroView, WireView, DeepView mk2 e SuperView, cada uma otimizada para comprimento de linha e alcance de medição.

Dados técnicos (controlador / geral)
Controlador: MPLS-DM
Tecnologia: Confocal cromático
Fonte: LED branca
Número de pontos: 180
Frequência de medição: 200 Hz – 2000 Hz (até 6000 Hz com alcance reduzido)
Medida de distância: Pico mais alto / Primeiro / Segundo / Terceiro / Quarto / Último pico
Medida de espessura: 2 de 5 picos
Saída digital: Gigabit Ethernet
Sincronização: Trigger in/out
Outras E/S: Entrada de encoder (1)
Comprimento do feixe de fibra: 5 m
Temperatura de operação: 5 °C – 50 °C
Temperatura de armazenamento: -30 °C – 70 °C
Humidade relativa: 5% – 80% HR sem condensação
Proteção: IP20
Conformidade: EN 61010-1; EN 61326-1
Alimentação: 100–240 Vac
Consumo (máx/typ): 120 W / 70 W
Dimensões (mm): 448.9 x 184 x 497
Peso: 14.5 kg

Dados técnicos (versões do sensor - valores comparativos)
Modelos / MPLS-DM (NANOVIEW / WIREVIEW / MICROVIEW / DEEPVIEW mk2 / SUPERVIEW) — Códigos de encomenda: OPSTM705002 (NANOVIEW), OPSTM710002 (WIREVIEW), OPSTM706002 (MICROVIEW), OPST0707002 (DEEPVIEW mk2), OPSTM711001 (SUPERVIEW).
Comprimento de linha (mm): 1.34 / 1.51 / 1.8 / 4.2 / 12.85
Alcance de medição @2 kHz (mm): 0.12 / 0.9 / 0.5 / 2.6 / 2
Distância de trabalho (mm): 7.4 / 7.8 / 10.1 / 19.5 / 11.3
Abertura numérica: 0.75 / 0.75 / 0.5 / 0.37 / 0.33
Inclinação máxima da amostra (°): ±43 / ±46 / ±30 / ±20 / ±17
Pitch (µm): 7.5 / 8.5 / 10.1 / 23.5 / 71.8
Erro máximo de linearidade (µm): ±0.04 / ±0.1 / ±0.08 / ±0.12 / ±0.12
Ruído estático (nm): 25 / 150 / 100 / 300 / 300
Resolução axial (µm): 0.15 / 0.9 / 0.6 / 1.8 / 1.8
Tamanho do spot (µm): 2.9 / 3.2 / 3.8 / 8.8 / 27.2
Homogeneidade (nm): 30 / 200 / 125 / 400 / 400
Espessura mínima mensurável (µm): 18 / 110 / 50 / 250 / 300
Comprimento / diâmetro / peso (mm / mm / g): NANOVIEW 436.1 / 50 / 2350 ; WIREVIEW 482.5 / 70 / 2850 ; MICROVIEW 427.3 / 50 / 2250 ; DEEPVIEW mk2 428.3 / 60 / 2800 ; SUPERVIEW 397.8 / 60 / 2550
Alcance de medição @4 kHz (mm): 0.055* / 0.45* / 0.235* / 1.15* / 0.9*
Alcance de medição @6 kHz (mm): 0.030* / 0.24* / 0.12* / 0.65* / 0.5*
* Valor preliminar