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Malvern Panalytical
O analisador de wafers de fluorescência de raios X por dispersão em comprimento de onda (WDXRF) 2830 ZT oferece recursos de última geração para medir a espessura e a composição de filme. Projetado especificamente para o setor de semicondutores e de armazenamento ...
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Comprimento de onda: 350 nm - 2.500 nm
... modelos espectrais precisos para análises quimiométricas quantitativas e qualitativas de materiais. A configuração do espectrômetro proporciona produtividade de sinal superior e é compatível com todas as sondas bifurcadas ASD e acessórios ...
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