Microscópios de bancada JEOL

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{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
microscópio TEM
microscópio TEM
JEM-ARM200F NEOARM

Resolução espacial: 0,1, 0,11, 0,25, 0,07, 0,16 nm

... enhanced ABF), facilitando a observação de materiais de elementos leves, mesmo com baixas tensões de aceleração. A sala do microscópio está separada da sala de operações para responder a uma operação remota. Além disso, são adoptadas ...

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microscópio TEM
microscópio TEM
JEM-1400Flash

Ampliação : 10 unit - 1.500.000 unit
Resolução espacial: 0,2, 0,14 nm

... estas necessidades, um novo microscópio eletrónico de 120 kV "JEM-1400Flash" está equipado com uma câmara sCMOS de alta sensibilidade, um sistema de montagem de área ultra-larga e uma função de ligação de imagem OM ( microscópio ...

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microscópio eletrônico de transmissão (MET)
microscópio eletrônico de transmissão (MET)
JEM-120i

Ampliação : 50 unit - 1.200.000 unit
Resolução espacial: 0,2, 0,14 nm
Largura: 840 mm

... Os microscópios electrónicos de transmissão (TEM) com tensão de aceleração de 120kV são amplamente utilizados em campos de materiais macios, como a biologia e os polímeros. Desenvolvemos recentemente o JEM-120i com o conceito de "compacto", ...

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microscópio SEM
microscópio SEM
JSM-IT810

... A versatilidade e a elevada resolução espacial aliam-se à automatização com o FE-SEM da série JSM-IT810. A automatização sem codificação para imagiologia e análise EDS está incorporada para um fluxo de trabalho simplificado e eficiente. Estão disponíveis ...

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microscópio SEM
microscópio SEM
JSM-IT800

Resolução espacial: 0,5 nm - 3 nm

... O JSM-IT800 incorpora o nosso "canhão de electrões de emissão de campo Schottky Plus In-lens" para imagens de alta resolução e mapeamento rápido de elementos, e um inovador sistema de controlo ótico de electrões "Neo Engine", bem como um sistema de GUI ...

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microscópio SEM
microscópio SEM
JCM-7000 NeoScope™

... Os microscópios electrónicos de varrimento de bancada são utilizados numa vasta gama de campos, tais como as indústrias eléctrica, eletrónica, automóvel, de maquinaria, química e farmacêutica. Além disso, as aplicações ...

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microscópio SEM
microscópio SEM
JSM-IT510 InTouchScope™

Ampliação : 150, 10.000, 100, 500, 5.000 unit
Resolução espacial: 3, 15 nm

... Os microscópios electrónicos de varrimento (SEM) são ferramentas indispensáveis não só para a investigação, mas também para a garantia de qualidade e para os locais de fabrico. Nestes locais, os mesmos processos de observação têm de ser ...

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microscópio FIB/SEM
microscópio FIB/SEM
JIB-4700F

Ampliação : 20 unit - 1.000.000 unit
Resolução espacial: 4 nm

... Os avanços no desenvolvimento de novos materiais com nanoestruturas complexas exigem cada vez mais dos instrumentos FIB-SEM uma resolução, precisão e rendimento excepcionais. Em resposta, a JEOL desenvolveu o sistema de feixes múltiplos JIB-4700F para ...

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