Microscópios de elétrons secundários HITACHI

Ampliação : 20 unit - 2.000.000 unit
Resolução espacial: 0,9, 0,6 nm

... Equipado com uma câmara de vácuo para amostras de 150 mm como padrão, o SU8700 oferece um elevado rendimento de amostras, mesmo para amostras maiores, e um ambiente de câmara de amostras constantemente limpo para imagens de alta resolução e baixa contaminação. ...

Ampliação : 20 unit - 2.000.000 unit
Resolução espacial: 0,8, 0,9 nm

... O SU7000 é ideal para amostras grandes ou pesadas e para integrar uma vasta gama de acessórios. Estes acessórios incluem detectores analíticos ou acessórios de palco para manipulação de amostras in-situ (estiramento [tração] / compressão, aquecimento/arrefecimento, ...

Ampliação : 5 unit - 800.000 unit
Resolução espacial: 15, 4, 3 nm

... plataforma de detetor comuns. Caraterísticas do produto: - Detectores Hitachi de elevada eficiência: -- Detetor de electrões secundários para alto vácuo -- Detetor de electrões retrodifundidos de semicondutor de 5 segmentos para ...

Ampliação : 6, 8.000.000 unit
Resolução espacial: 15, 4 nm

... O FlexSEM II é um SEM de mesa / compacto para tarefas de imagiologia que vão para além do desempenho dos SEMs de mesa convencionais. É o sistema ideal para quem não quer investir num SEM clássico, mas também não quer comprometer o desempenho de imagem ...

Ampliação : 10 unit - 250.000 unit
Comprimento: 617 mm

... Concebido como uma extensão lógica da microscopia estéreo ótica, o TM4000 III é um dispositivo de nível de entrada para a microscopia eletrónica de varrimento. Permite-lhe obter imagens de amostras no mais curto espaço ...

Ampliação : 20 unit - 8.000.000 unit
Resolução espacial: 0,08, 0,1 nm

... amostra. Graças ao corretor de Cs, a superfície pode ser visualizada com resolução atómica. A comutação rotineira e rápida entre TEM e STEM facilita o trabalho diário com um corretor de Cs totalmente automatizado, mesmo para principiantes ...

Resolução espacial: 2,8, 60, 4, 3,5 nm

... O NX2000 é um FIB-SEM optimizado para aplicações de semicondutores (análise de defeitos com importação de coordenadas KLARF, extração de lamelas TEM, desenvolvimento de dispositivos). Com um curso X,Y de 205 x 205 mm, a plataforma de amostras permite ...