Microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo SU8700

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FE-SEMs Schottky para imagiologia de ultra-alta resolução e trabalhos analíticos Ideal para utilizadores que pretendem tanto imagiologia de ultra-alta resolução como capacidades analíticas. Distância de trabalho analítica de apenas 6 mm. Exiba até seis canais de imagem em paralelo utilizando uma interface de utilizador com dois monitores. As capacidades de pressão variável, sem necessidade de aberturas adicionais, permitem a obtenção de imagens e trabalhos analíticos em amostras não condutoras. Automatização avançada para fluxos de trabalho otimizados. Fonte de emissão de campo Schottky. Amplificação do feixe em toda a gama e uma lente objetiva híbrida eletrostática-magnética para resolução subnanométrica sem interação magnética com a amostra. Câmara de maiores dimensões. Acomoda amostras com até 200 mm de diâmetro e 80 mm de altura. 18 portas de acesso à câmara, incluindo duas portas de cablagem na porta da plataforma, para acessórios opcionais. Otimizado para inspeção rápida (alto rendimento) de amostras com até 150 mm de diâmetro. Carregue as amostras através de uma câmara de troca de amostras padrão de seis polegadas, eventualmente com um mecanismo opcional de transferência por gás inerte. Visão geral Os FE-SEM SU7000 e SU8700 da Hitachi oferecem um equilíbrio excecional entre imagem de ultra-alta resolução e capacidades analíticas. Concebidos para ambas as funções, estes dois instrumentos partilham a mesma ótica de eletrões de alto desempenho e as mesmas funcionalidades analíticas, mas apresentam tamanhos diferentes de câmara e platina. Os modelos SU7000 e SU8700 foram concebidos para lidar com uma vasta gama de aplicações. A sua fonte de eletrões de emissão de campo Schottky de elevado brilho, a capacidade de imagem multissinal de varredura única e a automatização opcional do fluxo de trabalho (através do software EM Flow Creator) garantem resultados consistentes e uma produtividade superior.