Microscópio STEM HF5000

TEMde laboratóriopara a pesquisa sobre materiais

É alcançada uma resolução espacial de 0,078 nm em STEM, a par de uma elevada capacidade de inclinação da amostra e de um ou mais detetores EDX de grande ângulo sólido, tudo numa única configuração de lente objetiva. O HF5000 baseia-se nas características do STEM dedicado Hitachi HD-2700, incluindo o corretor de aberrações totalmente automatizado da própria Hitachi, o EDX SDD duplo simétrico e a imagem SE corrigida em Cs. Incorpora também as tecnologias avançadas de TEM/STEM desenvolvidas na série HF. A integração destas tecnologias acumuladas numa nova plataforma TEM/STEM de 200 kV resulta num instrumento com uma combinação ideal de imagem e análise sub-Å, bem como na flexibilidade e capacidades únicas para dar resposta aos estudos mais avançados. Características Corretor de aberração esférica com formação de sonda totalmente automatizado da Hitachi Canhão de eletrões FE frio (Cold FEG) de alto brilho e alta estabilidade Coluna e fontes de alimentação ultraestáveis para um melhor desempenho do instrumento Capacidade de imagem SEM e STEM simultânea com correção Cs e resolução atómica Nova plataforma de amostras de entrada lateral de alta estabilidade e suportes de amostras Detetores EDX* duplos de 100 mm² simetricamente opostos: «Symmetrical Dual SDD*» Caixa de proteção com novo design para um desempenho ideal em ambientes laboratoriais reais Uma vasta gama de suportes de amostras avançados da Hitachi* FEG a frio de alto brilho × Alta estabilidade × Corretor de aberrações automatizado da Hitachi O novo FEG a frio de alta estabilidade utiliza uma versão completamente redesenhada da tecnologia de longa data da Hitachi de fonte de eletrões de emissão de campo a frio. A estabilidade total do sistema também foi otimizada, a fim de alcançar imagens com resolução inferior a um Å. A coluna, as fontes de alimentação