概要ChromaLineカメラは、非接触の表面測定・検査向けの色収差コンフォーカルラインスキャンシステムです。色収差コンフォーカル顕微鏡の原理と高速4Kライン検出器を組み合わせ、数ミリメートルに及ぶ拡張被写界深度でシャープなプロファイルを取得し、最大199,500ライン/秒の高速取得を実現します。これにより、Z方向の大きな試料でも複雑なZスキャンやオートフォーカスを不要にします。
詳細説明ChromaLineは、ポリクロマティックな白色LED光源(外部Chromalightボックス)で照明されたスリット、色収差補正レンズ、ビームスプリッタ、および高速ライン検出器(SW-4000M-PMCL)を統合しています。光学系は拡張された被写界深度全域でピントの合った画像と正確な高さプロファイルを提供します。構成により、通常199,500ライン/秒の取得が可能です。
利点- 白色光を反射するあらゆる材料の検査が可能(金属、ガラス、プラスチック、塗膜、液体など)。
- 光学ヘッドは受動部品のみで構成されており、産業用途での堅牢性を確保。
- 高速取得対応:高速ラインスキャンカメラで最大199,500ライン/秒。
- 適切な構成ではマイクロメートルスケールの横方向検出およびサブミクロンのプロファイリングが可能。
- OEMの生産ラインでの自動光学検査(AOI)に適合。
用途- 自動車用ガラスの検査
- ガラス容器・包装産業
- 電気自動車分野(バッテリー検査)
- 透明/不透明フィルムのロールツーロール測定(例:EVバッテリーカバー、フレキシブルエレクトロニクス)
- キズ・ピット検査
- 電子機器産業(PCB検査)
- 半導体産業(シリコンウェーハ検査)
- 消費者部品(CCC)産業
- 医療機器の検査
- 微細機械
- 航空宇宙分野
- 時計製造
- ロボティクス・自動化
バージョン標準のChromaLineカメラは、NANOVIEW、MICROVIEW、WIREVIEW、DEEPVIEW mk2、SUPERVIEWの5バージョンで提供されます。高い開口数(例:NA 0.7)から最大12.85 mmの拡張ライン幅までオプションがあり、最小横方向解像度は光学によりサンプル上で0.43 µmに達することがあります。最大取得速度は199,500ライン/秒です。特定要件向けのOEMカスタム版も対応可能です。
仕様 / 技術仕様- コントローラ:MC2
- 技術:Chromatic Confocal
- 光源:白色LED(外部ボックス、Chromalight)
- ファイバーバンドル長:5 m
- 動作温度:0°C - 65°C
- 保管温度:-30°C - 70°C
- 相対湿度:5% - 80% RH(結露なきこと)
- 防護等級:IP20(ChromaLight) / IP50(本体)
- ライン検出カメラ:SW-4000M-PMCL
- カメラ画素数:4096
- 使用画素数:約 3100
- 画素サイズ:7.5 µm
- ラインレート:最大199.5 kHz
- 制御・データインターフェース:Camera Link (x2)
- カメラ電源:5 - 24 Vdc
- カメラ消費電力:5 W
- Chromalight電源(LED源):100 - 240 Vac
- Chromalight最大/通常消費:100 W / 60 W
- 寸法(カメラ本体):235.5 x 184.2 x 255.5 mm
- 重量(カメラ本体):4 kg