完全性試験機 SEEG 100

制御負荷信号

概要
SEEG 100 は、規制試験、研究開発および生産ラインでの検証向けに設計された EEG 性能テスターです。IEC 60601-2-26:2012、GB 9706.226-2021 等に対応し、サブマイクロボルト級の信号を高精度に出力します。

主な特長

• 対応規格：IEC 60601-2-26:2012、GB 9706.226-2021、JJG 1043、JJF 1388、JJF 1390
• 電気的・シールド設計により 1 µV 信号出力が可能な高感度出力
• 9 チャンネル、オートセレクトスイッチにより個別チャネル試験が可能（出力 Ch1–Ch9）
• 入力インピーダンス試験用の 620kΩ/4.7nF 選択回路を内蔵
• EDF（PhysioNet）、バイナリ、テキスト形式のファイル再生に対応
• 規格に沿った試験シーケンス、オプション、判定基準を内蔵し準拠検査を簡素化
• カスタムまたは自動化試験ソフトウェア開発を支援する SDK 提供

注意
製品外観の統一を目的として、WhaleTeq は 2023 年 7 月 28 日に SEEG 100 の外装印刷を更新しました。機能に変更はありません。

標準パッケージ内容

• SEEG 100 x 1
• EEG ブレイクアウトボックス x 1
• ワイヤータイ x 22
• USB ケーブル x 1
• 接地ケーブル x 1

技術仕様（要約）
主出力電圧精度：±1%（≥50µVpp）
主出力電圧分解能（DAC）：0.5 µV
周波数精度：±0.1%
パルス時間精度：±0.2 ms
抵抗誤差：±0.5%
コンデンサ誤差：±5%
精密 1000:1 分圧（100kΩ:100Ω）：±0.05%
サンプリング率：5 kHz ±0.05%
DC オフセット（固定、内部スーパーキャパシタ由来）：300 mV ±0.1%
DC オフセット（可変）：設定 ±1% または ±3 mV；最大で 50 µVpp のノイズを含む場合あり
消費電流：通常負荷 <0.25 A；全リレー投入時は最大 0.45 A まで可
動作環境：5–40°C、50–80% RH、標高最大 2000 m
安全性／信号処理：USB IC 保護機構および MCU / DC‑DC ノイズ低減用フィルタを内蔵

信号種類（設定概要）
サイン：0.05–500 Hz、初期値 10 Hz、ステップ 0.01 Hz
サイン振幅：-2000–2000 µV、初期値 100 µV、ステップ 1 µV
トライアングル：0.05–500 Hz、初期値 10 Hz、ステップ 0.01 Hz — 振幅 -2000–2000 µV、ステップ 1 µV
スクエア：0.05–500 Hz、初期値 10 Hz、ステップ 0.01 Hz — 振幅 -2000–2000 µV、ステップ 1 µV
矩形パルス：0.05–5 Hz、パルス幅 2–300 ms、初期幅 100 ms
三角パルス：0.05–5 Hz、パルス幅 2–300 ms、初期幅 100 ms
ヒステリシス信号：0.05–500 Hz、振幅 -2000–2000 µV、パルス幅 2–300 ms

信号付加機能
DC オフセット：-1000–1000 mV、ステップ 1 mV
620kΩ / 4.7nF（短絡時）選択：オン／オフ（初期値オフ）
主なノイズプリセット：50 Hz（初期値）、60 Hz、80 Hz、100 Hz（80/100 Hz は容量補正用のみ）
周波数スキャン（サイン）：開始 0.67–500 Hz、停止 0.67–500 Hz、期間 10–180 s
出力リード電極：Ch1–Ch9（Ch10–Ch22 は短絡）初期 Ch1

ドキュメント＆ソフトウェア（入手可能）

• アプリケーション/ソフトウェアパッケージ（AP）
• データシート
• ユーザーマニュアル
• SDK およびリリースノート

技術的特徴

• モデル：SEEG 100
• 対応規格：IEC 60601-2-26:2012、GB 9706.226-2021、JJG 1043、JJF 1388、JJF 1390
• チャンネル：オートセレクト付き 9 チャンネル
• 信号振幅範囲：-2000～2000 µV
• サンプリング率：5 kHz
• DAC 分解能：0.5 µV
• 精密分圧器：1000:1 ±0.05%
• 入力インピーダンス試験オプション：620kΩ / 4.7nF
• ファイル対応：EDF（PhysioNet）、バイナリ、テキスト
• カスタム／自動試験向け SDK 提供