TESCAN の高解像度顕微鏡

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光学顕微鏡
光学顕微鏡
MIRA

... TESCAN MIRAのFEGショットキー電子放出源搭載の第4世代走査型電子顕微鏡(SEM)は、SEMイメージングとライブ元素組成分析をTESCANのEssence™ソフトウェアの単一ウィンドウに統合しています。この組み合わせにより、サンプルの形態データと元素データの取得が大幅に簡素化され、MIRA SEMは品質管理、故障解析、研究所における日常的な材料検査のための効率的な分析ソリューションとなります。 TESCAN Essence™ ...

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TESCAN GmbH
走査電子顕微鏡
走査電子顕微鏡
MAGNA

... サブナノメートルスケールのナノ材料特性評価用UHR SEM 次世代材料(触媒構造、ナノチューブ、ナノ粒子、その他のナノスケール構造など)の高分解能・高コントラスト画像化 サブナノメートルスケールのSEM/STEM計測に適した優れたプラットフォーム 電子ビームの高速セットアップ - In-Flight Beam Tracing™により最適なイメージング条件を保証 マルチ検出器システム TriBE™ および TriSE™ による試料のナノキャラクタリゼーション 直感的に操作できるソフトウェアモジュラープラットフォームにより、ユーザーのスキルレベルに関係なく簡単に操作できるように設計されています。 ...

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TESCAN GmbH
FIB/SEM顕微鏡
FIB/SEM顕微鏡
AMBER

... な動きと直感的なプローブチップナビゲーションにより、クライオのリフトアウトを楽に行うことができます。さらに、TESCAN AMBERは、TESCAN 3Dトモグラフィーソフトウェアパッケージを使用したサンプルのボリューム再構築にナノメートルスケールの解像度を提供します。 TESCAN AMBERは、ユーザーの安全と関心領域の効率的な探索を保証するために、衝突防止機能を備えた独自の3Dチャンバーモデルを搭載しています。この貴重な機能により、システム内での迅速かつ安全なナビゲーションが可能になります。 ...

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TESCAN GmbH
FIB顕微鏡
FIB顕微鏡
AMBER X

... cryoは、ライフサイエンスとマテリアルサイエンスの両方に対応する中核施設、イメージングおよび顕微鏡センターに最適で、さまざまな材料や試料を常温または極低温で扱うことができる汎用性を備えています。 主な特長 iFIB+プラズマFIBカラムにより、試料除去や試料薄片化を迅速に行うことで、クライオET試料作製ワークフローにおける最大のボトルネックを解消 高性能プラズマFIBとハイスループットなクライオ電子顕微鏡試料作製に不可欠な最適化されたワークフローにより、クライオ・オングリッド・ラメラ作製を数分で ...

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