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... 電子放出源搭載の第4世代走査型電子顕微鏡（SEM）は、SEMイメージングとライブ元素組成分析をTESCANのEssence™ソフトウェアの単一ウィンドウに統合しています。この組み合わせにより、サンプルの形態データと元素データの取得が大幅に簡素化され、MIRA SEMは品質管理、故障解析、研究所における日常的な材料検査のための効率的な分析ソリューションとなります。 TESCAN ...
... ナノスケールでの材料特性評価のための無電界分析型UHR SEM あらゆる種類の材料をナノスケールで妥協なく特性評価できる 低ビームエネルギーで最大限の表面形状を得ることができるため、材料の特性評価に最適 ビームに敏感なサンプルや非導電性サンプルのイメージングに最適 電子ビームの完全自動セットアップ - In-Flight Beam Tracing™により、最適なイメージング条件が保証されます。 Wide Field Optics™設計により、光学ナビゲーションカメラを追加することなく、2 ...
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