Microscópios de laboratório HITACHI

Ampliação : 20 unit - 2.000.000 unit
Resolução espacial: 0,9, 0,6 nm

... Equipado com uma câmara de vácuo para amostras de 150 mm como padrão, o SU8700 oferece um elevado rendimento de amostras, mesmo para amostras maiores, e um ambiente de câmara de amostras constantemente limpo para imagens de alta resolução e baixa contaminação. ...

Ampliação : 6, 8.000.000 unit
Resolução espacial: 15, 4 nm

... O FlexSEM II é um SEM de mesa / compacto para tarefas de imagiologia que vão para além do desempenho dos SEMs de mesa convencionais. É o sistema ideal para quem não quer investir num SEM clássico, mas também não quer comprometer o desempenho de imagem ...

Ampliação : 10 unit - 250.000 unit
Comprimento: 617 mm

... Concebido como uma extensão lógica da microscopia estéreo ótica, o TM4000 III é um dispositivo de nível de entrada para a microscopia eletrónica de varrimento. Permite-lhe obter imagens de amostras no mais curto espaço ...

Ampliação : 20 unit - 8.000.000 unit
Resolução espacial: 0,08, 0,1 nm

... amostra. Graças ao corretor de Cs, a superfície pode ser visualizada com resolução atómica. A comutação rotineira e rápida entre TEM e STEM facilita o trabalho diário com um corretor de Cs totalmente automatizado, mesmo para principiantes ...

Ampliação : 1.000.000, 800.000, 600.000 unit
Resolução espacial: 0,19, 0,14, 0,2 nm

... A família HT7800 suporta uma vasta gama de aplicações, desde as ciências da vida à ciência dos materiais. Está disponível em três variantes diferentes de pólos, sempre com base na nossa lente objetiva patenteada para alternar rapidamente entre alto contraste ...

Ampliação : 5 unit - 600.000 unit
Resolução espacial: 0,9, 2,5 nm

... observação personalizáveis asseguram resultados consistentes e de alta qualidade com um mínimo de intervenção, ideal para laboratórios centrados na eficiência. ...

Ampliação : 0 unit
Resolução espacial: 4, 60 nm

... FIB-SEM NX5000 "ETHOS" destina-se a aplicações avançadas de precisão de posição nas áreas da produção automatizada de lamelas TEM ultrafinas para TEM/STEM com correção de aberrações, exame SEM de alta resolução e multissinal de secções ...

Resolução espacial: 1,6, 2,1, 4 nm

... Neste sistema único, as colunas Ga-FIB e FE-SEM estão em ângulo reto entre si. Esta configuração é ideal para aplicações em que grandes volumes (tecidos biológicos, materiais com grandes estruturas granulares, componentes de semicondutores, etc.) devem ...

Resolução espacial: 2,8, 60, 4, 3,5 nm

... O NX2000 é um FIB-SEM optimizado para aplicações de semicondutores (análise de defeitos com importação de coordenadas KLARF, extração de lamelas TEM, desenvolvimento de dispositivos). Com um curso X,Y de 205 x 205 mm, a plataforma de amostras permite ...