Microscópios de laboratório HITACHI

Ampliação : 20 unit - 2.000.000 unit
Resolução espacial: 0,6, 0,9 nm

... FE-SEMs Schottky para imagiologia de ultra-alta resolução e trabalhos analíticos Ideal para utilizadores que pretendem tanto imagiologia de ultra-alta resolução como capacidades analíticas. Distância de trabalho analítica de apenas 6 mm. Exiba até ...

Ampliação : 6, 8.000.000 unit
Resolução espacial: 15, 4 nm

... de 5 eixos Operação automatizada e intuitiva O FlexSEM II VP-SEM foi concebido para investigadores e responsáveis de laboratório que necessitam das capacidades de um SEM tradicional num formato mais compacto e fácil de operar, semelhante ...

Ampliação : 10 unit - 250.000 unit
Comprimento: 617 mm

... monitorização do filamento O microscópio eletrónico de varrimento Hitachi TM4000PlusIII oferece uma solução compacta e intuitiva para a obtenção de imagens e análise elementar. Concebido para uma vasta gama de utilizadores — desde laboratórios ...

Ampliação : 20 unit - 8.000.000 unit
Resolução espacial: 0,08, 0,1 nm

... simetricamente opostos: «Symmetrical Dual SDD*» Caixa de proteção com novo design para um desempenho ideal em ambientes laboratoriais reais Uma vasta gama de suportes de amostras avançados da Hitachi* FEG a frio de alto brilho × Alta ...

Ampliação : 1.000.000, 800.000, 600.000 unit
Resolução espacial: 0,19, 0,14, 0,2 nm

... A série HT7800 é um microscópio eletrónico de transmissão (TEM) de 120 kV que combina a aquisição de dados de alta qualidade e reprodutíveis com uma eficiência melhorada para o trabalho de observação. Ao automatizar os alinhamentos e ...

Ampliação : 5 unit - 600.000 unit
Resolução espacial: 0,9, 2,5 nm

... industriais de maiores dimensões, estes microscópios eletrónicos de varrimento proporcionam-lhe a versatilidade e a estabilidade necessárias para apoiar os objetivos do seu laboratório. Ideais tanto para laboratórios ...

Resolução espacial: 60, 4 nm

... Controlo totalmente integrado da orientação da amostra para o efeito anti-cortina (tecnologia ACE) Preparação de amostras para TEM com lamelas uniformes em qualquer orientação 4. Capacidade para feixe triplo, proporcionando resultados ...

Resolução espacial: 1,6, 2,1, 4 nm

... verdadeira alta resolução, de modo a responder às mais recentes exigências em matéria de análise estrutural 3D e para análises por TEM e 3DAP. O sistema FIB-SEM NX9000 permite a máxima precisão no processamento de materiais para uma vasta ...

Resolução espacial: 2,8, 60, 4, 3,5 nm

... O NX2000 é um FIB-SEM optimizado para aplicações de semicondutores (análise de defeitos com importação de coordenadas KLARF, extração de lamelas TEM, desenvolvimento de dispositivos). Com um curso X,Y de 205 x 205 mm, a plataforma de amostras permite ...