全自動式サンプル準備システム EM TP
自動自動電子顕微鏡用

全自動式サンプル準備システム - EM TP - Leica Microsystems - 自動 / 自動 / 電子顕微鏡用
全自動式サンプル準備システム - EM TP - Leica Microsystems - 自動 / 自動 / 電子顕微鏡用
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特徴

操作
全自動式, 自動, 自動
応用
電子顕微鏡用, 研究用
用途
インクルージョン式, 固定式
サンプルタイプ
組織用
その他の特徴
タッチパネル付き

詳細

概要
EM TP 自動組織処理装置を使用して、電子顕微鏡用の試料を自動化された再現性のあるワークフローで調製します。本システムはプログラム可能な自動処理により手作業を少なくとも75%削減し、1回の処理で複数の試料タイプの処理を可能にします。

主な利点
  • 手作業による調製が原因のばらつきを低減
  • バッチ間の再現性を向上
  • 積層可能なサンプルバスケットで異なる組織タイプを同時処理
  • 試薬および試料の管理された条件を維持

自動化による比較可能性の確保
完全自動のEM TPは、ユーザー定義のプロトコルを介入なしで実行し、EMおよびLMの樹脂処理を自動的に識別して、制御された攪拌速度と時間で試料を試薬バイアル間で移送します。

再現可能な実験 ― 再現可能な結果
統合タッチスクリーンソフトウェアにより、試薬シーケンス、処理時間、環境設定、遅延開始/終了の正確なプログラミングが可能で、プロトコルは保存および再読み込みして一貫した実行を確保できます。

1回の処理で複数の組織を処理
さまざまなサイズの積層可能なサンプルバスケットにより、異なる試料形状や組織タイプを同時に処理でき、スループットを向上させ廃棄を削減します。

環境条件の維持
加熱/冷却システムは試薬および試料の温度を+4 °C〜+60 °Cの範囲で精密に制御し、EM処理時に次の試薬バイアルの予熱および予冷機能を提供します。

ワークフロー
EM TPは、以下を含む電子顕微鏡用の一般的な試料調製ワークフローをサポートします:
  • 標準的なSEMワークフロー(自動処理 → 臨界点乾燥 → コーティング → SEM撮像)
  • 断面トモグラフィー 3Dワークフロー(室温処理 → 半厚連続断面切削 → 染色 → TEM撮像)

使用目的
研究用のみ

技術仕様
  • 型式: EM TP
  • 自動処理により手作業を少なくとも75%削減
  • プログラム可能なタッチスクリーンソフトウェア;プロトコルは保存および再読み込み可能
  • プログラム可能なパラメータ: 試薬、処理時間、環境設定、遅延開始/終了
  • EMおよびLM処理モードの自動識別
  • 制御された攪拌速度でのバイアル間自動サンプル移送
  • 温度制御範囲: +4 °C〜+60 °C
  • 次の試薬バイアルの予熱/予冷機能(EM処理時)
  • さまざまなサイズのサンプルバスケットを柔軟に積層し、複数の組織タイプを1回の処理で処理可能
  • SEMおよびTEMの試料調製ワークフローをサポート

カタログ

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