X線回折計 SmartLab

SAXS研究所用

装置が最適条件を教えてくれるガイダンス機能を搭載した多目的Ｘ線回折装置 SmartLabは、幅広い分析手法や各種材料に最適な測定テクニックを知り尽くしたリガクの測定スペシャリストが、そのノウハウをパッケージ化することに成功し、業界ではじめて装置が最適条件を教えてくれるガイダンス機能を実現した装置です。膜厚測定、配向測定、粒径空孔径分布測定など、従来難しかった薄膜材料の測定を、専門的な知識がなくとも可能にしました。 ガイダンス機能 リガクの分析ノウハウを凝縮した SmartLab Studio II ソフトウェアが、各アプリケーションに最適な光学系ユニットの選択から、測定条件の設定・実行までの測定シーケンスを自動的に設定します。 ハイパフォーマンスＸ線源 PhotonMax 出力9kWのファインフォーカスＸ線源です。新メカニカルシールを採用し、ターゲットのライフタイムが大幅に改善されました。 ハイブリッドピクセルアレイ検出器 HyPix-3000 優れたエネルギー分解能がバックグラウンドノイズの抑制に大きく貢献します。2次元検出器としてだけでなく、1次元検出器や0次元検出器としても使用できます。 長期保証（日本国内） 高機能なＸ線回折装置を使いたいが、メンテナンスコストが心配というお客様の声にお応えして、安心の長期保証をご提案いたします。 PhotonMax：3年または10,000時間保証 HyPix-3000：5年保証 ゴニオメーター：10年保証 CBOファミリー リガクの特許技術であるCross Beam Optics（CBO）を標準装備し、各種基本光学系の切り換え操作をシンプルにしました。 各種ビーム形状に対応するCBOシリーズにより、発散ビーム・平行ビーム・集光ビームの切り換えが容易です。 多彩な薄膜評価手法を身近に サンプルの設計膜厚や予想される結晶性などを入力するだけで、そのサンプルに最適な測定手順が設定されます。 対応薄膜評価アプリケーション：組成分析、方位・配向分析、結晶性評価、格子緩和評価、格子歪・残留応力評価、膜厚分析、界面ラフネス分析、密度分析、面内均一性評価など 小角散乱測定をシンプルに MRSAXSプラグインを用いて、小角散乱データの詳細な解析が簡単にできます。 対応各種小角散乱アプリケーション：液体分散ナノ粒子の粒径分布解析、薄膜またはバルク中ナノ粒子/空孔のサイズ分布解析、ナノ粒子/空孔の形状評価、不規則な電子密度分布の相関関数解析など 粉末解析を簡単に SmartLabはサンプル情報に基づいて測定光学系を提案し、光学素子の設定、測定条件の設定、そしてデータ測定までの一連のプロセスを、ユーザーフレンドリなダイアログを通じて支援します。 各種粉末アプリケーション：定性分析、定量分析、結晶化度評価、結晶子サイズ/格子歪評価、格子定数の精密化、Rietveld解析など ユニット交換作業の簡素化 接触型コネクタ方式採用により、測定目的に応じてユニットを交換する際に、ケーブル類の抜き差しや電源OFFの必要がありません。どなたでも試料交換や光学系交換が容易に行えます。 SmartLabは、幅広い分析手法や各種材料に最適な測定テクニックを知り尽くしたリガクの測定スペシャリストが、そのノウハウをパッケージ化することに成功し、業界ではじめて装置が最適条件を教えてくれるガイダンス機能を実現した装置です。膜厚測定、配向測定、粒径空孔径分布測定など、従来難しかった薄膜材料の測定を、専門的な知識がなくとも可能にしました。