BRUKER/ブルカーの光学プロフィロメータ

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光学プロフィロメータ
光学プロフィロメータ
ContourX-200

... 収まる再現性を実現 妥協のない、クラス最高の計測技術 卓上型3次元 光学プロファイラーContourX-200は、40年以上にわたるブルカー独自の 光学技術(WLI)をベースに開発されています。定量的な計測に必要な低ノイズ、高速計測、測定結果に対する高い精度を実現しています。複数の対物レンズと統合された特徴認識機能は、様々な視野とサブナノ メートルの垂直分解能で特徴を追跡することができ、様々な業界の品質管理や プロセスモニタリングのアプリケーションにスケールに依存しない測定結果を提供します。ContourX ...

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Bruker Nano Surfaces/ブルカー
光学プロフィロメータ
光学プロフィロメータ
NPFLEX-1000

... 。一般的な製造生産 フローに基づき、操作画面上で プロセスのワーク フローを容易にカスタマイズしマッピングを自動化するためのツールを提供します。 スループットを犠牲にすることなく、高い柔軟性と多彩な高密度デ ータと解析機能を提供します。 ...

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光学プロフィロメータ
光学プロフィロメータ
ContourX-100

... ContourX-100 光学プロ フィ ロメ ータは、クラス最高の価格帯で、高精度で再現性の高い非接触表面形状測定の新たな基準を打ち立てました。数十年にわたるブルカー独自の白色光干渉法(WLI)の技術革新を取り入れた合理的なパッケージで、2D/3Dの高分解能測定が可能です。次世代の機能強化として、新しい5MPカメラとステージの更新により、より大きなスティッチングが可能になりました。また、新しい測定モードUSIにより、精密機械加工面、厚膜、トライボロジー・アプリケーションの利便性と柔軟性がさらに向上しました ...

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光学プロフィロメータ
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ContourX-500

... ContourX-500 光学式表面形状測定機は、高速で非接触の3次元表面形状測定が可能な世界で最も包括的な自動卓上システムです。ゲージ対応のContourX-500は、比類のないZ軸分解能と精度を誇り、ブルカーの白色光干渉計(WLI) フロアスタンディングモデルが業界で認められている利点を、はるかに小さな設置面積で提供します。精密加工表面や半導体 プロセスのQA/QC測定から、眼科やMEMSデバイスの研究開発における特性評価まで、幅広い複雑なアプリケーションに対応するカスタマイズが容易です。 チップ ...

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光学プロフィロメータ
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Dektak Pro

... し遂げ、スタイラス プロファイリング技術で業界をリードしてきました。現在、Dektak システムはスタイラス プロファイラのゴールドスタンダードとして定評があり、長年にわたり、高精度で信頼性の高いソリューションとして揺るぎない地位を確立しています。 Dektak Proは、操作性、信頼性、測定精度をさらに向上させ、触針式 プロファイリングの代名詞ともいえるDektakの技術をさらに進化させました。 再現性と精度の追求 Dektak ...

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光学プロフィロメータ
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Dektak XTL™

... を可能にし、高度な自動化により製造スループットを向上させます。 簡単 分析とデ ータ収集 複雑なサンプルに対して、解析ルーチンを自動化し、必要な機能のみを報告します。 機能 業界最高の自動化・分析ソフトウェア ソフトウェアの拡張機能により、Dektak XTLは最も強力で最も使いやすいスタイラス プロファイラとなりました。このシステムは、Brukerの 光学 プロファイラ製品と完全に互換性のあるVision64ソフトウェアを使用しています。 ...

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