走査型電子顕微鏡

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走査型電子顕微鏡 | 顕微鏡を正しく選択する
顕微鏡には、主に光学顕微鏡、電子顕微鏡、走査型プローブ顕微鏡の3種類があります。 光学顕微鏡 :光学レンズを使用して画像を形成し、光線を制御しながら試料を照らします。 パラメータ(照明の種類、偏光、スペクトルフィルタリング、空間フィルタリング)を変更して、異なる観測技術を使用できます。 デジタル顕微鏡は、レンズの代わりにカメラが使用される、一種の光学顕微鏡です。 光学顕微鏡の倍率は約1000倍です。 電子顕微鏡 : 試料は電子ビームを使用して照射されます。 倍率は光学顕微鏡よりもはるかに高く、200万倍に達する可能性があります。  電子顕微鏡には主に2種類があります:で透過型電子顕微鏡(TEM)と走査型電子顕微鏡(SEM)です。 走査型プローブ顕微鏡 :、プローブを物体の表面に近づけて、試料の表面のトポグラフィを決定することで構成されています。 使用する顕微鏡によっては、空間分解能が原子スケールに達する場合があります。 例えば原子間力顕微鏡(AFM)または近接場光学顕微鏡(SNOM)があります。
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走査電子顕微鏡
走査電子顕微鏡
VEGA

倍率 : 1,000,000 unit

... TESCAN VEGA Compactは、簡単な操作で高画質な画像や組成分析(EDS)を短時間で得られることを重視する研究室向けの分析用SEMソリューションで、エントリーレベルでも妥協する必要はないことを証明します。 TESCAN VEGA Compactは、形態や元素のデータを効率的に取得するために最も重要なコンポーネントのみを含むシンプルな構成になっており、ラボでの占有面積を小さくすることができます。TESCAN VEGA Compactは、冶金断面、溶接構造、プリント基板など、産業、材料科学、半導体で一般的な大型サンプルに対応できるため、現在の材料検査、品質管理、故障解析のニーズだけでなく、将来の分析ニーズにも対応できる優れた選択肢です。 TESCAN ...

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TESCAN GmbH
光学顕微鏡
光学顕微鏡
VEGA

... TESCAN VEGAの第4世代タングステンフィラメント電子源搭載走査型電子顕微鏡(SEM)は、SEMイメージングとライブ元素組成分析をTESCANのEssence™ソフトウェアの単一ウィンドウに統合しています。この組み合わせにより、サンプルの形態データと元素データの取得が大幅に簡素化され、VEGA SEMは品質管理、故障解析、研究所のルーチン材料検査における効率的な分析ソリューションとなります。 完全に統合されたTESCAN Essence™ EDSを特徴とする分析プラットフォームは、単一のEssence™ソフトウェアウィンドウでSEMイメージングと元素組成分析を効率的に組み合わせます。 In-flight ...

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TESCAN GmbH
光学顕微鏡
光学顕微鏡
MIRA

... TESCAN MIRAのFEGショットキー電子放出源搭載の第4世代走査型電子顕微鏡(SEM)は、SEMイメージングとライブ元素組成分析をTESCANのEssence™ソフトウェアの単一ウィンドウに統合しています。この組み合わせにより、サンプルの形態データと元素データの取得が大幅に簡素化され、MIRA SEMは品質管理、故障解析、研究所における日常的な材料検査のための効率的な分析ソリューションとなります。 TESCAN Essence™ EDSを完全に統合した分析プラットフォームで、SEMイメージングと元素組成分析を1つのEssence™ソフトウェアウィンドウで効率的に組み合わせることができます。 In-flight ...

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TESCAN GmbH
原子間力顕微鏡
原子間力顕微鏡

倍率 : 25 unit - 200,000 unit
重量: 330 kg
長さ: 835 mm

... FusionScopeは相関AFM/SEM顕微鏡であり、これら2つの分析手法をシームレスに組み合わせることができるように一から設計されています。ほとんどの分析では、パラメータ間の相関関係を調べるために、複数の手法でサンプルを分析することが望まれます。AFMやSEMのようなイメージング技術では、多くの場合、まったく同じ領域を分析する必要があります。サンプルを顕微鏡から別の顕微鏡に移したり、サンプルの同じ場所を分析するために2つの異なるオペレーティングシステムを使用したりする必要がなく、FusionScopeは同じユーザーインターフェイス内で、同じ場所を協調して補完的に測定することができます。これにより、より有用で斬新なデータを迅速に提供できる、使いやすいシステムとなります。 FusionScopeは、SEMを備えた完全機能の原子間力顕微鏡の利点をすべて備えています。接触モード、ダイナミックモード、FIREモードなど、標準的なAFMで期待されるほとんどの通常の測定モードが可能です。ボタンをクリックするだけで、サブナノメートル分解能のAFMとSEMイメージングを切り替え、必要なデータを抽出できます。交換可能なカンチレバーは、導電性AFM(C-AFM)や磁気力顕微鏡(MFM)などの高度なモードを簡単に提供します。 使いやすさ FusionScopeのハードウェアとソフトウェアは、初心者の方でも安心してお使いいただけるよう慎重に設計されています。また、上級者の方でも、期待される機能をすべて備えた、詳細でカスタマイズ可能なユーザーインターフェースをご利用いただけます。 タスクとワークフロー FusionScopeは、AFMやSEMの操作に関連する一般的なサポート作業をサポートします。 ...

FIB顕微鏡
FIB顕微鏡
JIB-PS500i

倍率 : 50 unit - 1,000,000 unit
分解能: 3 nm

IB-PS500iは、TEM試料作製をアシストする3つのソリューションを提供します。 試料作製からTEM観察まで、確実かつ高スループットなワークフローで作業することができます。 TEM-LINKAGE 二軸傾斜カートリッジ※とTEM ホルダー※によりTEM ⇔ FIBのリンクを容易にします。 カートリッジは専用のTEM 試料ホルダーにワンタッチで装着できます。 Oxford Instruments 社製のOmniProbe 400※を採用し、正確かつ迅速にピックアップ作業が行えます。また、JIB-PS500i ...

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Jeol
走査型電子顕微鏡
走査型電子顕微鏡

分解能: 0.1 nm

電子顕微鏡とはSEMやTEMと呼ばれる顕微鏡のことで、光の代わりに波長の短い電子線を利用して、数nm(ナノメートル)位のモノまで観察することができる顕微鏡のことです。 世界最高の電子顕微鏡で、弊社のACサーボモータを採用頂き、 0.1nmの点分解能を実現しています。世界各国の国家機関の研究所や大学で、生物医学や材料開発などの先端科学の研究や、試料を搭載するステージ駆動に使用されています。

光学顕微鏡
光学顕微鏡
GeminiSEM series

倍率 : 1 unit - 2,000,000 unit

低加速電圧下で高コントラストの実現が可能なFE-SEM 基礎研究、工業分野、イメージング施設などで活用いただける、柔軟で信頼できるフィールドエミッション型走査型電子顕微鏡(FE-SEM)です。 GeminiSEM シリーズは、低加速電圧下で高コントラストを実現。さまざまなサンプルに対応が可能です。

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ZEISS Microscopy
走査電子顕微鏡
走査電子顕微鏡
SU9000

倍率 : 3,000,000 unit
分解能: 0.4 nm

コールドFE電子源は、他の電子源と比べて光源径やエネルギー幅が小さいので、高分解能観察に適しています。さらに高輝度かつ安定性な新型コールドFE電子銃を搭載したSU9000IIは高分解能観察のみならず、高品質な元素分析が可能です。それらの性能を発揮したデータを安定して取得できるよう、光学系の自動調整機能やデータ取得自動化を支援するオプション機能を搭載し、大量データの自動取得を可能にしました。 また、インレンズ形対物レンズを備えたSU9000IIは、EELSの測定が可能です。 日立FE-SEMの最上位機種 SU9000IIは日立FE-SEMの最上位機種です。 低収差レンズの最高峰であるインレンズ型対物レンズを搭載したSU9000IIは、世界最高分解能 ...

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Hitachi High-Technologies
光学顕微鏡
光学顕微鏡
LVEM5

... 世界最小のTEM... LVEM5は、高分解能イメージングと光学顕微鏡の小さなフットプリントを組み合わせたコンパクトなベンチトップ装置です。顕微鏡、電子ユニット、真空システム、PCの4つのパーツから構成されています。小さな設置面積、暗室不要、冷却水不要、簡単なメンテナンス...これらにより、この装置は個人またはグループ内で多目的に使用できる電子顕微鏡となっています。 高コントラスト LVEM5は、重金属染色やシャドーイングを使用することなく、軽元素で構成された物体を高コントラストで観察できるユニークな調査ツールです。 豊富なイメージングモード LVEM5は世界最小の透過型電子顕微鏡で、従来のTEMに搭載されている標準的なイメージングモードをすべて備えています。LVEM5は、ナノメートルの空間分解能で、透過モード(TEM ...

走査電子顕微鏡
走査電子顕微鏡
SEM

... 今日まで、安価で使いやすい高解像度のイメージングツールの選択肢は限られていました。当社の電子顕微鏡では、サブミクロンからナノスケールの観察が可能です。 個人用の走査型電子顕微鏡(SEM)は、光学の限界を超えて見ることができます。 従来の光学顕微鏡の20倍の倍率を持つSEMは、高解像度のイメージングと非常に使いやすい操作性を兼ね備えています。エンジニア、研究者、教育者、学生は、わずか10分のトレーニングで、高品質なサブミクロンの画像を作成することができます。 このシステムは、サブミクロンの粒子、繊維、マイクロツール、電子部品などの詳細なイメージングに最適です。光学カメラ、電動ステージ、タッチスクリーンのユーザーインターフェースが連携し、24倍の「鳥瞰図」から興味のある領域に簡単にナビゲートすることができます。 優れた画像品質は、生産性を向上させ、根本的な原因分析までの時間を短縮する新しい方法を生み出すのに役立ちます。 私たちは、光学カメラを搭載した高解像度のパーソナル走査型電子顕微鏡を提案します。革新的なタッチスクリーンのユーザーインターフェースと操作ノブにより、最小限のトレーニングで高品質の電子顕微鏡画像を素早く作成することができます。このシステムは、最小限の準備でさまざまなサンプルを扱うことができ、特許取得済みの低真空ロードロック技術により瞬時にロードされます。画像はUSBメモリーやネットワークストレージに保存され、オフラインでの分析、測定、配信が可能です。 仕様 倍率は24~24,000倍 最大画像サイズ:2048 ...

光学顕微鏡
光学顕微鏡
NPS

分解能: 1.8, 2.6, 2.5, 4.6, 1 µm

... NPSは、白色光共焦点ポイントセンサーと高精度な電動ステージを組み合わせたものです。 あらゆる表面のサブミクロン高度を非接触で測定することが可能です。 ハイスピードプロファイル 高精度の電動XYステージで試料を1軸移動させることにより、選択した間隔で一連のフォーカスポイントを取得し、高速プロファイルを作成します:高さ、距離、半径、線粗さ(Ra、Rz、Rtなど)などの測定が数秒で可能です! 高解像度サーフェス 体積、表面粗さ(Sa、Sz)、複雑な形状、3次元のうねりなど、さまざまな情報を測定することが可能です! 白色光コンフォーカル測定 NPSは、プロファイルやサーフェススキャンのために、リアルタイムで高度を測定する革新的な非接触型共焦点3Dプロフィロメーターです: 白色光LEDのビームはビームスプリッターを通して投射される と、試料の表面に対するカラーレンズと 試料からの反射光ビームは、フィルターで 共焦点ピンホールで、単一波長を完全に分離する NPSの分光器は、この波長を正確に変換しています を高さ情報に変換し、NPSソフトウェアでビジュアルに表示します。 で、1秒間に最大2000件の高さ情報を取得します。 XYステージの移動時にプロファイルをリアルタイムで作成する 2つのモードを選択することができます:プロファイルとサーフェス ...

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Hirox Europe
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