Hitachiの顕微鏡

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{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
走査電子顕微鏡
走査電子顕微鏡
SU9000

分解能: 0.4 nm
倍率 : 3,000,000 unit

... 超高分解能走査型電子顕微鏡 SU9000 冷磁場放射源は、小さな光源サイズとエネルギー拡散を伴う高解像度イメージングに最適です。 革新的なCFE Gunテクノロジーは、優れたビーム輝度と安定性を備えた究極のFE-SEMに貢献し、高解像度のイメージングと高品質の元素解析を実現します。 ユニークなオブジェクトレンズデザインは、同様にEELSと回折の機能を持っています。 SU9000は、日立の新しいプレミアムSEMです。 これは、対物レンズポールピースの上部と下部の間の隙間の内側に配置されたサンプル ...

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Hitachi High-Technologies
光学顕微鏡
光学顕微鏡
Regulus series

... FE-SEMsの新しいブランドとして、レグルスシリーズのラインナップは、レギュラス8100、レギュラス8220、レギュラス8230、レギュラス8240の4つのモデルで構成され、これらすべてが共通プラットフォームを使用してSU8200シリーズの機能を拡張しています。 最適化された電子光学系により、レギュラス8220/8230/8240モデルでは0.9nm、レギュラス8100モデルでは1.1nmまでの分解能が特徴で、従来のモデルと比較して1kVの着陸電圧での分解能が約 ...

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FA-STEM顕微鏡
FA-STEM顕微鏡
SU5000

... ショットキー電界放出型走査電子顕微鏡 SU5000 高真空モードと可変圧力モードの切り替えが簡単にできる画期的な分析用FE-SEMです。EM Wizardは、基本的なプリセット条件やレシピを超えた、SEMイメージングのための知識ベースのシステムです。その使いやすさは、私たちの想像を超えた材料の研究・開発・領域への新たな扉を開きます。 SU5000 FE-SEMは、SEMの運用を大きく変えました。EM Wizardと呼ばれる日立の画期的なコンピュータ支援技術は、SEMの操作とコントロールを新たな ...

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走査電子顕微鏡
走査電子顕微鏡
SU3500

... 走査型電子顕微鏡は、画期的な電子光学系と信号検出システムを特長とし、比類のないイメージングと分析性能を発揮します。あらゆる研究室で活力を発揮します。 SU3500走査型電子顕微鏡は、画期的な電子光学系と信号検出システムを特長とし、比類のないイメージングと分析性能を提供します。 直感的なロジックで設計された新しいユーザーフレンドリーなGUIは、包括的な画像観察と表示機能を提供します。 SU3500は、生物学的試料や先進的な材料を含む幅広い用途向けに設計されており、あらゆる実験室での実力顕微鏡です。 ...

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走査電子顕微鏡
走査電子顕微鏡
S-3700N

... サンプルチャンバは、さまざまなサンプルに対応し、柔軟なチャンバ設計により、優れた分析結果が得られます。 最大高さ110mmの直径300mmのサンプルを収容可能。 5軸電動ステージにより、大型チャンバーは多種多様なサンプルに最適です。 現在、走査型電子顕微鏡(SEM)は、学術研究だけでなく、さまざまな産業においても、これまで以上に幅広いアプリケーション分野に広がっています。この傾向に関連して、観察と分析を必要とするサンプルも幅広い用途をカバーしています。 ...

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走査電子顕微鏡
走査電子顕微鏡
TM3030Plus

... TM3030Plusは、低真空観測の世界で画質を向上させることができます。 TM3030Plusには、FE-SEMおよびVP SEMに組み込まれているプレミアムSE検出器があり、高感度検出器としてユーザーに受け入れられています。 低真空環境下で効果的に操作でき、試料の準備なしで迅速なSE画像観察が可能です。 プラス@@ 1:新たに革新的な二次電子検出器 TM3030Plusは、FE-SEMおよびVP SEMに組み込まれているプレミアムSE検出器を備え、高感度検出器としてユーザーに受け入れられています。 ...

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透過型電子顕微鏡
透過型電子顕微鏡
HF-3300

... 電子光学設計には、空間的に分解されたEELS*と二重バイプリズム*電子ホログラフィー(特別オーダー)が含まれます。 二次電子イメージングとSTEMイメージングの同時実行により、表面構造とバルク構造が同時に明らかになります。 気体環境TEMまたは収差補正顕微鏡検査用の特別バージョンがあります。 高輝度コールドフィールド放出(コールドFE)電子源 冷電界放出電子源は、その高輝度および高エネルギー分解能でナノスケール分析に利益をもたらす。 ...

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STEM顕微鏡
STEM顕微鏡
HD-2700

... HD-2700は、二次電子(SE)イメージング機能を備えた80~200kVの電界放射ガン走査型透過電子顕微鏡(STEM)です。 試料のバルク構造と表面構造を同時にイメージングすることができます。 プローブ形成収差補正のオプションにより、STEMおよびSEイメージングの両方で超高分解能を達成できます。 日立補正器は、収差補正を行うためのユーザーの労力を最小限に抑えます。 大きなソリッドアングルEDS*、原子空間分解能EDS*、EELSスペクトルイメージング*が有効になります。 ...

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FIB/SEM顕微鏡
FIB/SEM顕微鏡
NX9000

... のFIB-SEMシステムでは回避できないシリアル断面イメージング中のアスペクト変形、断面画像の縮みおよび視野(FOV)のシフトが排除されます。 NX9000画像は、高精度の3D構造解析を可能にします。 表面平面EMイメージングの利点により、光学相関顕微鏡を簡単に適用できます。 カット&シー·3D-EDS*1·3D-EBSD*1 多種多様な素材で入手可能 カット&見る ...

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FIB/SEM顕微鏡
FIB/SEM顕微鏡
NX2000

... 究極のTEMサンプル調製システムに向けて、 FIB-SEMシステムは、最新の技術と高性能ナノスケール材料の特性評価と分析に欠かせないツールとなっています。 FIB処理中にアーティファクトのない超薄型TEMラに対する需要がますます高まっているためには、最高のイオンおよび電子光学技術が必要です。 HITACHIのNX2000高性能FIBおよび高分解能SEMシステムは、独自のサンプル配向制御*およびトリプルビーム*技術を備え、最先端のアプリケーション向けに高スループットと高品質TEMサンプル調製をサポートします。 ...

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